Przyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Część 3: Zewnętrzna kontrola wizualna PN-EN 60749-3.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Szczegóły wydania: Warszawa : Polski Komitet Normalizacyjny, 2004.Opis: 4 s. ; 30 cmISBN: - 8324339132
- PN-EN 60749-3: 2004
- Inny tytuł: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3: 2002)
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | PN-EN 60749-3 | Dostępny | 60749-3 |
Liczba zamówień: 0
Niniejsza norma jest polską wersją normy europejskiej EN 60749-3: 2002. Została ona przetłumaczona przez Polski Komitet Normalizacyjny i ma ten sam status co wersje oficjalne.
Zamiast : PN-EN 60749-3: 2003 (U) ; zatwierdzona przez Prezesa PKN dnia 13 maja 2004 r.