Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Zarys metrologii technicznej : techniki pomiarowe / Stanisław Kruś, Grzegorz Pinkowski, Waldemar Szymański.

Autor: Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstSzczegóły wydania: Poznań : Wydawnictwo Akademii Rolniczej im. Augusta Cieszkowskiego, cop. 2007.Wydanie: Wyd. 2 uaktual. i poprOpis: 102, [1] s. : il. ; 24 cmTyp zawartości:
  • Tekst
Tryb odtwarzania:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
Typ nośnika:
  • Wolumin
Odbiorca:
  • Poziom nauczania: Szkoły wyższe
ISBN:
  • 9788371604638
Tematy: Rodzaj/forma:
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Dział/Uwagi Status Kod kreskowy
Wolny dostęp - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn skryptów W 167014 G 5 Dostępny 0000180015
Wolny dostęp - wypożyczane na 14 dni Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn skryptów W 167014 G 5 Dostępny 0000180014
Niewypożyczane Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni Czytelnia A 161010 Dostępny 0000074956
Liczba zamówień: 0

Bibliogr. s. 102-[103].

Udostępnij