Electron Microscopy and Microanalysis of Crystalline Materials / Ed. Belk J.A.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: angielski Szczegóły wydania: London : Applied Science Publ., 1979.Opis: X,240 s.,il.,bibliogr. ; 24 cm
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 90878 | Dostępny | 001090878000 |
Liczba zamówień: 0