Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Principles of measurement systems / John P. Bentley.

Autor: Rodzaj materiału: TekstTekstSzczegóły wydania: Harlow : Pearson Education ; New York : Prentice Hall, 2005.Wydanie: 4th edOpis: XIV, 528 s. : fot., rys., wykr. ; 25 cmISBN:
  • 0130430285
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Status Kod kreskowy
Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn główny Mg 187734 Dostępny 0000171762
Liczba zamówień: 0

Bibliogr. w tekście. Indeks.

Udostępnij