Nieniszczące metody i urządzenia do charakteryzacji warstw wysokooporowych /

Łozowski, Tadeusz.

Nieniszczące metody i urządzenia do charakteryzacji warstw wysokooporowych / Tadeusz Łozowski. - Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2001. - 124 strony : ilustracje ; 24 cm.

Bibliografia na stronach 114-124.

8370855563


Badania nieniszczące
Dielektryki
Fotoelektryczność
Metody badawcze
Mikroelektronika
Optoelektronika
Półprzewodniki
Przetworniki
Układ scalony cienkowarstwowy
Zastosowanie i wykorzystanie
Warstwy dielektryczne.
Warstwy cienkie półprzewodnikowe.
Próby nieniszczące.


Chemia
Fizyka i astronomia
Informatyka i technologie informacyjne
Inżynieria i technika

621.315.5 : 539.4