Untersuchungen zur Schichtdickenabhangigkeit von Beweglichkeit und Dotierung in epitaxialen Siliziumschichten auf Spinell und Saphir.[Praca doktorska] /

Bänziger Urs-Peter.

Untersuchungen zur Schichtdickenabhangigkeit von Beweglichkeit und Dotierung in epitaxialen Siliziumschichten auf Spinell und Saphir.[Praca doktorska] / Bänziger Urs-Peter. - Zürich : brak, 1977. - 92s.,bibliogr. ; 24cm.

Zürich,Eidgenössischen Techn.Hochschule.

621.382