Structural and chemical analysis of materials : x-ray, electron and neutron diffraction ; x-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy /
Eberhart, Jean-Pierre.
Structural and chemical analysis of materials : x-ray, electron and neutron diffraction ; x-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy / X-ray, electron and neutron diffraction X-ray, electron and ion spectrometry Electron microscopy Tytuł oryginału: Analyse structurale et chimique des matériaux J. P. Eberhart ; translated by J. P. Eberhart. - Chichester : John Wiley & Sons, 1991. - XXX, 545 strony : ilustracje ; 26 cm.
Bibliografia przy rozdziałach. Indeks.
0471950149
Mikroskopia chemiczna
Chemia
Inżynieria i technika
Structural and chemical analysis of materials : x-ray, electron and neutron diffraction ; x-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy / X-ray, electron and neutron diffraction X-ray, electron and ion spectrometry Electron microscopy Tytuł oryginału: Analyse structurale et chimique des matériaux J. P. Eberhart ; translated by J. P. Eberhart. - Chichester : John Wiley & Sons, 1991. - XXX, 545 strony : ilustracje ; 26 cm.
Bibliografia przy rozdziałach. Indeks.
0471950149
Mikroskopia chemiczna
Chemia
Inżynieria i technika