Widok standardowy Widok MARC

Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej. (Hasło korporatywne)

Forma preferowana: Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej.
Forma odrzucona:
  • Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN.
  • Komitet Metrologii PAN.
  • Polish Academy of Sciences. Committee of Measurement and Scientific Instrumentation.
  • Committee of Measurement and Scientific Instrumentation of Polish Academy of Sciences.
  • Polish Academy of Sciences. Committee on Metrology and Research Equipment. Polish Academy of Sciences.
  • Committee on Metrology and Research Equipment Polish Academy of Sciences.
  • Polish Academy of Sciences. Committee on Metrology and Scientific Instrumentation.
  • Komitet Metrologii i AN PAN.
  • Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk.
  • Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauki.
  • Polska Akademia Nauki. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej.

Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN uchwalony został na zebraniu plenarnym z dnia 20 marca 2012 i zatwierdzony przez Wiceprezesa PAN.

Kp. Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle. - Zielona Góra, 1996.

INP'1995/1996

Kp. Metrology and Measurement Systems. - Vol. 16, No. 1 (2009).

Modelowanie i pomiary w medycynie / pod red. Janusza Gajdy. - Kraków, 2011. S. tyt.: (Patronat: Komitet Metrologii i AN PAN)

Problemy Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. - 2 (2009). Inst. spr.

Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej PAN http://www.kmian.pan.pl/

VII Kongres Metrologii / opr. red. Waldemar Wójcik. - Lublin, 2016. Org.