Kp. Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw i małych cząstek / Krzysztof Sikorski. - Warszawa, 2000.

Kp. Omówienie wykonanych prac badawczych przy stanowisku atomowego wzorca częstotliwości Instytutu Łączności : wnioski i sugestie dalszego rozwoju laboratorium / A. Chachulski, K. Drogoń, K. Sikorski. - Warszawa, 1977.

Kp. Melting bahaviour of the nanostructured eutectic Ag-Cu brazing filler metal / Vinzenz Bissig. - Warsaw, 2015. Promotor

Baza Wiedzy PW, 18.09.20 (prof. dr hab. inż. Krzysztof Sikorski, profesor emerytowany, Zakład Projektowania Materiałów) http://repo.bg.pw.edu.pl/index.php/pl/ludzie-pw/osoby

Wydział Inżynierii Materiałowej PW, 18.09.20 (Charakteryzowanie materiałów metodami: mikroanalizy rentgenowskiej, elektronowej mikroskopii skaningowej, spektroskopii elektronów Auger, procesy dyfuzji w ciałach stałych, metalurgia proszków, nanomateriały) https://www.wim.pw.edu.pl/Pracownicy/Profesorowie-emerytowani/Krzysztof-Sikorski