Wybrane aspekty pomiaru funkcji intensywności procesów niestacjonarnych w zakresie nano i pikosekundowych rozdzielczości systemu pomiarowego / Marek Zieliński.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Serie: Rozprawy - Uniwersytet Mikołaja KopernikaSzczegóły wydania: Toruń : Wydawnictwo UMK, 2000.Opis: 116 s. : il. ; 24 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 8323111839
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 143114 | Dostępny | 0000024393 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. s. 101-114.
Streszcz. ang.