Podstawy metrologii. Cz. 1, Proces poznawczy, wielkości mierzalne / Władysław Gundlach, Jan Ciepłucha, Dorota Kozanecka.
Rodzaj materiału:
TekstSerie: Skrypty dla Szkół Wyższych - Politechnika ŁódzkaSzczegóły wydania: Łódź : Wydaw. Politechniki Łódzkiej, 1988.Opis: 93, [1] s., [1] k. tabl. złoż. : rys., tabl., wykr. ; 21 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- Poziom nauczania: Szkoły wyższe
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 112330/1 | Dostępny | 001112330010 |
Liczba zamówień: 0
Literatura s. [94].