Analytische Beschreibung des Degradationsverhaltens von Submikrometer-MOS-Bauelementen durch heisse Ladungstrager : Experimente, Modellbildung und Simulation fur schaltungstechnische Anwendungen / Qin Wang.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: München : Technische Universität Berlin, 1991.Opis: 128 s. : il. ; 21 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 119605 | Dostępny | 001119605000 |
Liczba zamówień: 0
Dissertation. Technische Universität Berlin, 1991.