Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN, 2023.Wydanie: Wydanie I, dodruk IOpis: 436 stron : ilustracje ; 24 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 9788301231583
- Książka dostępna również jako e-book.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Dział/Uwagi | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Wolny dostęp - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn skryptów | W 191063 | G 5 | Dostępny | 0000227684 | |
| Wolny dostęp - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn skryptów | W 191063 | G 5 | Dostępny | 0000227685 | |
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | czytelnia ogólna | CzO 204287 | G 5 | Dostępny | 0000228615 |
Liczba zamówień: 0
Bibliografia na stronach 420-432.
Publikacja kierowana jest do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysły maszynowego czy specjalistów projektowania przemysłowego. Nadaje się również jako lektura dla studentów kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
Książka dostępna również jako e-book.