Semiconductor measurements and instrumentation / W.R. Runyan.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: angielski Serie: Texas Instruments Electronic SeriesSzczegóły wydania: New York : McGraw-Hill, 1975.Opis: 280 s. : il. ; 26 cmISBN: - 0070542732
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 84568 | Dostępny | 0000030317 |
Liczba zamówień: 0
Indeks.
Bibliogr. s. 268-274.