Przyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Część 9: Trwałość oznakowania PN-EN 60749-9.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Szczegóły wydania: Warszawa : Polski Komitet Normalizacyjny, 2004.Opis: 6 s. ; 30 cmISBN: - 8324339175
- PN-EN 60749-9: 2004
- Inny tytuł: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9: 2002)
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | PN-EN 60749-9 | Dostępny | 60749-9 |
Liczba zamówień: 0
Niniejsza norma jest polską wersją normy europejskiej EN 60749-9: 2002. Została ona przetłumaczona przez Polski Komitet Normalizacyjny i ma ten sam status co wersje oficjalne.
Zamiast : PN-EN 60749-9: 2003 (U) ; zatwierdzona przez Prezesa PKN dnia 13 maja 2004 r.