Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Przyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Cz. 29: Badanie stanu zatrzaśnięcia PN-EN 60749-29 / Polski Komitet Normalizacyjny.

Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstJęzyk: polski Język oryginału: angielski Szczegóły wydania: Warszawa : PKN, 2006.Opis: 20 s. , il. ; 30 cmISBN:
  • 8325102195
Numer raportu: 31.080.01Inny tytuł:
  • PN-EN 60749-29:2006
  • Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2003) [Inny tytuł]
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Status Kod kreskowy
Niewypożyczane Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni Czytelnia PN-EN 60749-29 Dostępny 60749-29
Liczba zamówień: 0

Niniejsza norma jest polska wersją Normy Europejskiej EN 60749-29: 2003. Została ona przetłumaczona przez PKN i ma ten sam status co wersje oficjalne.

ICS 31.080.01.

Wprowadza EN 60749-29:2003, IDT; IEC 60749-29:2003, IDT; Zastępuje PN-EN 60749-29:2004 (U); Zatwierdzona 7 lipca 2006 r.

Udostępnij