Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Matematyczne podstawy metrologii / Janusz Jaworski.

Autor: Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstJęzyk: polski Język streszczenia: angielski, rosyjski Szczegóły wydania: Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 1979.Wydanie: Wyd. IOpis: 365, [3] strony : ilustracje ; 25 cmOdbiorca:
  • Poziom nauczania: Szkoły wyższe
ISBN:
  • 8320400910
Tematy: Rodzaj/forma:
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Dział/Uwagi Materiały określone Status Kod kreskowy
Niewypożyczane Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni czytelnia ogólna CzO 90681 G 5 Dostępny 0000021656
Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn główny Mg 90682 Dostępny 0000106024
Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn główny Mg 90683 Dostępny 0000106025
Magazyn - Wypożyczane na 14 dni Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn skryptów W 42060 G 5 Dostępny 000042060000
Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn skryptów W 42060 G 5 Dostępny 000055130000
Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn skryptów W 42060 G 5 Dostępny 000055607000
Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce magazyn skryptów W 42060 G 5 Dostępny 000055610000
Liczba zamówień: 0

Literatura na stronach 356-358. Indeks.

Dla magistrów i inżynierów elektryków oraz elektroników. Mogą z niej korzystać inżynierowie innych kierunków, a także studenci specjalizacji automatyka i metrologia elektryczna wydziałów elektrycznych wyższych uczelni technicznych.

Streszczenie w języku angielski i rosyjskim.

Udostępnij