Przyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności PN-EN 60749-30 / Polski Komitet Normalizacyjny.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Język oryginału: angielski Szczegóły wydania: Warszawa : Polski Komitet Normalizacyjny, 2007.Opis: 2, 13 s. ; 30 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 9788325120535
- Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005) [Inny tytuł]
- PN-EN 60749-30:2007
- Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | PN-EN 60749-30 | Dostępny | 60749-30 |
Liczba zamówień: 0
Niniejsza norma jest polską wersją Normy Europejskiej EN 60749-30: 2005. Została ona przetłumaczona przez Polski Komitet Normalizacyjny i ma ten sam status co wersje oficjalne.
ICS 31.080.01.
Zawiera tab.
Wprowadza EN 60749-30:2005, IDT; IEC 60749-30:2005, IDT; Zastępuje PN-EN 60749-30:2005 (U); Zatwierdzona 31 stycznia 2007 r.