Podstawy metrologii : przegląd metod i przyrządów pomiarowych / Tadeusz Sidor.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Katowice : Wydawnictwo Wyższej Szkoły Zarządzania Ochroną Pracy, 2008.Opis: 105 s. : il. ; 24 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- Poziom nauczania: Szkoły wyższe
- 9788392218685
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 159520 | Dostępny | 0000075338 |
Liczba zamówień: 0
Podręcznik dla studentów V semestru kierunku Zarządzanie i Inżynieria Produkcji w WSZOP.