Quantitative Auger-Elektronenspektroskopie zur Tiefenprofilanalyse von Schichtsystemen am Beispiel von Silizium nacht Nickelimplantation / Schönborn Andreas.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: niemiecki Serie: Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 5, Grund- und Werkstoffe/Kunststoffe ; Nr 235Szczegóły wydania: (Düsseldorf) : VDI-Verlag,, 1991.Opis: [4],II,134s.,bibliogr. ; 21 cmISBN: - 3181435058
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 120791 | Dostępny | 001120791000 |
Liczba zamówień: 0