Łozowski, Tadeusz. <br/><br/>
Nieniszczące metody i urządzenia do charakteryzacji warstw wysokooporowych / 
Tadeusz Łozowski. 
 - Wrocław :  Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej,  2001. 
 - 124 strony :  ilustracje ;  24 cm. 
<br/><br/>Bibliografia na stronach 114-124. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>8370855563 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Badania nieniszczące<br/>Dielektryki<br/>Fotoelektryczność<br/>Metody badawcze<br/>Mikroelektronika<br/>Optoelektronika<br/>Półprzewodniki<br/>Przetworniki<br/>Układ scalony cienkowarstwowy<br/>Zastosowanie i wykorzystanie<br/>Warstwy dielektryczne.<br/>Warstwy cienkie półprzewodnikowe.<br/>Próby nieniszczące.
<br/><br/><label>Index Terms--Curriculum Objective: </label><br/>Chemia<br/>Fizyka i astronomia<br/>Informatyka i technologie informacyjne<br/>Inżynieria i technika
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.315.5 : 539.4