Metody statystycznej i wrażliwościowej analizy i optymalizacji układow :  monografia z tematów: I. 2a, b, d Problemu Resortowego MNSZWiT 1.8 "Teoria Obwodów i Układów Elektronicznych" / 
opracowanie: Instytut Podstaw Elektroniki Politechniki Warszawskiej, Instytut Elektroniki Politechniki Śląskiej, Instytut Telekomunikacji Politechniki Gdańskiej. 
 - Warszawa :  [s.n.],  1981. 
 - 154 s. :  il. ;  24 cm. 
<br/><br/>Bibliogr. przy wybranych rozdz. 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Metody badawcze<br/>Statystyka matematyczna<br/>Układ elektroniczny<br/>Zastosowanie i wykorzystanie<br/>Obliczenia układów elektronicznych.<br/>Teoria wrażliwości (matematyka).<br/>Optymalizacja matematyczna.<br/>Statystyka matematyczna.
<br/><br/><label>Index Terms--Curriculum Objective: </label><br/>Inżynieria i technika<br/>Matematyka
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.3.049 :  621.374.5