Wang, Qin  (elektrotechnika). <br/><br/>
Analytische Beschreibung des Degradationsverhaltens von Submikrometer-MOS-Bauelementen durch heisse Ladungstrager :  Experimente, Modellbildung und Simulation fur schaltungstechnische Anwendungen / 
Qin Wang. 
 - München :  Technische Universität Berlin,  1991. 
 - 128 s. :  il. ;  21 cm. 
<br/><br/>Dissertation. Technische Universität Berlin, 1991. 
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.382