TY  - BOOK
AU  - Wang,Qin
TI  - Analytische Beschreibung des Degradationsverhaltens von Submikrometer-MOS-Bauelementen durch heisse Ladungstrager: Experimente, Modellbildung und Simulation fur schaltungstechnische Anwendungen 
PY  - 1991///
CY  - München
PB  - Technische Universität Berlin
N1  - Dissertation. Technische Universität Berlin, 1991
ER  -