Boyd, Sarah B. <br/><br/>
Life-cycle assessment of semiconductors / 
Sarah B. Boyd ; foreword by Arpad Horvath. 
 - New York ;  Dordrecht ;  Heidelberg ;  London :  Springer Science+ Business Media,  © 2012. 
 - XXVII, [1], 226 stron :  ilustracje ;  24 cm. 
<br/><br/>Indeks. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>9781441999870 9781441999887 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Analiza cyklu życia.<br/>Półprzewodniki.