Adamczak, Stanisław  (1948- ). <br/><br/>
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych :  zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / 
Stanisław Adamczak. 
 - Wydanie I, dodruk I. 
 - Warszawa :  Wydawnictwo Naukowe PWN,  2023. 
 - 436 stron :  ilustracje ;  24 cm. 
<br/><br/>Bibliografia na stronach 420-432. 
<br/><br/> Publikacja kierowana jest do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysły maszynowego czy specjalistów projektowania przemysłowego. Nadaje się również jako lektura dla studentów kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka. 
<br/><br/>
<br/><br/><label>ISBN: </label>9788301231583 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Powierzchnie (matematyka)--pomiar.<br/>Powierzchnie (technologia)--modele matematyczne.