TY  - BOOK
AU  - Adamczak,Stanisław
ED  - Wydawnictwo Naukowe PWN
TI  - Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych: zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość 
SN  - 9788301231583
PY  - 2023///
CY  - Warszawa
PB  - Wydawnictwo Naukowe PWN
KW  - Powierzchnie (matematyka)
KW  - pomiar
KW  - kaba
KW  - Powierzchnie (technologia)
KW  - modele matematyczne
N1  - Bibliografia na stronach 420-432; Publikacja kierowana jest do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysły maszynowego czy specjalistów projektowania przemysłowego. Nadaje się również jako lektura dla studentów kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka; Książka dostępna również jako e-book
UR  - https://www.biblos.pk.edu.pl/ST/2023/11/100000345397/100000345397_Adamczak_MetrologiaGeometryczna.pdf
ER  -