Bänziger Urs-Peter. <br/><br/>
Untersuchungen zur Schichtdickenabhangigkeit von Beweglichkeit und Dotierung in epitaxialen Siliziumschichten auf Spinell und Saphir.[Praca doktorska] / 
Bänziger Urs-Peter. 
 - Zürich :  brak,  1977. 
 - 92s.,bibliogr. ;  24cm. 
<br/><br/> Zürich,Eidgenössischen Techn.Hochschule. 
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.382