Watts, John F. <br/><br/>
An introduction to surface analysis by XPS and AES  [Dokument elektroniczny] / 
John F. Watts, John Wolstenholme. 
, Dane tekstowe. 
 - Chicheste [etc.] :  J. Wiley,  2003. 
<br/><br/> Tyt. z ekranu tytułowego.  Dostęp w sieci internet dla zarejestrowanych i uprawnionych użytkowników Biblioteki Głównej Politechniki Poznańskiej. 
<br/><br/>Bibliogr. s. 195-200. Indeks. 
<br/><br/>
<br/><br/><br/>Tryb dostępu: World Wide Web. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0470847123 0470847131 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Spektroskopia elektronowa.<br/>Powierzchnie (technologia)--analiza.