Przyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Część 3: Zewnętrzna kontrola wizualna PN-EN 60749-3. 
 PN-EN 60749-3: 2004 Inny tytuł:  Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3: 2002) 

 - Warszawa :  Polski Komitet Normalizacyjny,  2004. 
 - 4 s. ;  30 cm. 
<br/><br/> Niniejsza norma jest polską wersją normy europejskiej EN 60749-3: 2002. Została ona przetłumaczona przez Polski Komitet Normalizacyjny i ma ten sam status co wersje oficjalne. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>8324339132 
<br/><br/><label>Report. No.: </label>31.080.01