Przyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Część 9: Trwałość oznakowania PN-EN 60749-9.
PN-EN 60749-9: 2004 Inny tytuł: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9: 2002)
- Warszawa : Polski Komitet Normalizacyjny, 2004.
- 6 s. ; 30 cm.
Niniejsza norma jest polską wersją normy europejskiej EN 60749-9: 2002. Została ona przetłumaczona przez Polski Komitet Normalizacyjny i ma ten sam status co wersje oficjalne.