X-ray optics and X-ray microanalysis :  third International Symposium, Stanford University, Stanford, California, August 1962 / 
edited by H. H. Pattee, V. E. Cosslett, Arne Engström. 
 - New York ;  London :  Academic Press,  1963. 
 - XVII, 622 s. :  il. ;  23 cm. 
<br/><br/>Bibliogr. przy rozdz. Indeks. 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Mikroanaliza--konferencje.<br/>Sondy elektronowe--konferencje.<br/>Promieniowanie rentgenowskie--konferencje.
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>537.5(061)