Metryki i modele w inżynierii jakości oprogramowania /
Stephen H. Kan ; przekł. z jęz. ang.: Andrzej Kosowski.
- Warszawa : Wydawnictwo Naukowe PWN cop. 2006.
- 540 s. : il. ; 24 cm.
- Fundamenty Informatyki .
- Fundamenty Informatyki .
U dołu s. tyt. i okł. logo Wydawnictwa "Mikom", oficyny z Grupy PWN.