Przyrządy półprzewodnikowe - Badania mechaniczne i klimatyczne - Część 30: Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności PN-EN 60749-30 / 
 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005)  PN-EN 60749-30:2007  Wstępne narażanie niehermetycznych przyrządów przeznaczonych do montażu powierzchniowego przed badaniami nieuszkadzalności 
Polski Komitet Normalizacyjny. 
 - Warszawa :  Polski Komitet Normalizacyjny,  2007. 
 - 2, 13 s. ;  30 cm. 
<br/><br/> Niniejsza norma jest polską wersją Normy Europejskiej EN 60749-30: 2005. Została ona przetłumaczona przez Polski Komitet Normalizacyjny i ma ten sam status co wersje oficjalne.  ICS 31.080.01.  Zawiera tab. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>9788325120535 
<br/><br/><label>Report. No.: </label>31.080.01