Pawłowski, Michał  (elektronika). <br/><br/>
Obrazowanie struktury defektowej materiałów półizolujących z wykorzystaniem niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej / 
Michał Pawłowski. 
 - Warszawa :  Wojskowa Akademia Techniczna,  2007. 
 - 167 s. :  il. (w tym kolor.) ;  24 cm. 
<br/><br/>Bibliogr. s. 153-167. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>9788389399663 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Arsenek galu--defekty.<br/>Półprzewodniki--defekty--badania.<br/>Spektroskopia fotoelektryczna.
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.315.6 :  548.4