Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni /
Michał Wieczorowski.
- Poznań : Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, 2009.
- 340 s. : il. ; 24 cm.
- Rozprawy / Politechnika Poznańska, nr 429 0551-6528 ; .
- Rozprawy - Politechnika Poznańska nr 429 .