Szelewski, Maciej. <br/><br/>
Metrologiczna analiza dyskretyzacji na współrzędnościowych maszynach pomiarowych i modelowania w systemie CAD wybranych elementów w procesie inżynierii odwrotnej / 
Maciej Szelewski ; promotor: Jan Chajda ; Politechnika Poznańska. Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania. Instytut Technologii Mechanicznej. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. 
 - Poznań :  [nakł. autora],  2008. 
 - 135 s. :  il. ;  30 cm +  2 recenzje. 
<br/><br/>Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2008. 
<br/><br/>Bibliogr. s. 128-135. 
<br/><br/><br/>Streszcz. ang. 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Inżynieria odwrotna (informatyka)--rozprawy akademickie.<br/>Digitalizacja--rozprawy akademickie.<br/>Projektowanie wspomagane komputerowo--rozprawy akademickie.