TY  - BOOK
AU  - Agrawal,Vishwani D.
AU  - Seth,Sharad C.
TI  - Tutorial test generation for VLSI CHIPS
SN  - 081868786X
PY  - 1988///
CY  - Washington, Los Angeles
PB  - Computer Society Press, Computer Society
KW  - Układy VLSI
KW  - kaba
N1  - Bibliogr. przy ref. oraz na s. 333-394
ER  -