Sikora, Andrzej  (nauki techniczne). <br/><br/>
Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych :  wybrane zagadnienia / 
Andrzej Sikora ; Instytut Elektrotechniki. 
 - Warszawa :  Instytut Elektrotechniki,  2012. 
 - 186 s. :  il. kolor. ;  24 cm. 
 - Prace Instytutu Elektrotechniki. Monografia .
 - Prace Instytutu Elektrotechniki  z. 257 Prace Instytutu Elektrotechniki.  Monografia .
<br/><br/> W serii gł.: ISSN 0032-6216, nr: 257.  Praca wydana w czasopiśmie: Prace Instytutu Elektrotechniki, z. 257.  W serii gł. nr 257. 
<br/><br/>Bibliogr. s. 163-184. 
<br/><br/><br/>Spis treści i streszcz. także ang. 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Elektrotechnika--materiały.<br/>Mikroskopia atomowo wzmacniana.