Sharma, Ashok K. <br/><br/>
Semiconductor memories :  technology, testing, and reliability / 
Ashok K. Sharma. 
 - Hoboken :  New York :  Wiley-Interscience ;  IEEE, the Institute of Electrical and Electronics Emgineers,  cop. 1997. 
 - XII, 462 s. :  il. ;  26 cm. 
<br/><br/>Bibliogr. przy rozdz. Indeks. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0780310004 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Pamięci półprzewodnikowe--podręczniki akademickie.
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>681.327.67