TY  - BOOK
AU  - Sharma,Ashok K.
TI  - Semiconductor memories: technology, testing, and reliability 
SN  - 0780310004
PY  - 1997///
CY  - Hoboken, New York
PB  - Wiley-Interscience, IEEE, the Institute of Electrical and Electronics Emgineers
KW  - Pamięci półprzewodnikowe
KW  - podręczniki akademickie
KW  - kaba
N1  - Bibliogr. przy rozdz. Indeks
ER  -