He, Ming. <br/><br/>
Metal-dielectric interfaces in gigascale electronics :  thermal and electrical stability / 
Ming He, Toh-Ming Lu. 
 - New York [etc.] :  Springer,  cop. 2012. 
 - XI, 149 s. :  il. ;  24 cm. 
 - Springer Series in Materials Science,  157  0933-033X ; .
 - Springer Series in Materials Science  157 .
<br/><br/> Bibliogr. przy rozdz. Indeks. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>9781461418115 9781461418122 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Mikroelektronika--materiały.<br/>Powierzchnie międzyfazowe (fizyka).
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>621.38:620.1