Adamski, Adrian. <br/><br/>
Charakteryzacja cienkich warstw wytwarzanych z barwników fluorescencyjnych metodą wylewania strefowego w aspekcie zastosowań w optoelektronice / 
Adrian Adamski ; Politechnika Poznańska. Wydział Fizyki Technicznej. Katedra Spektroskopii Optycznej. 
 - Poznań,  2014. 
 - 85 s. :  il. ;  30 cm +  1 płyta CD. 
<br/><br/> Promotor: Eryk Wolarz.  Niepublikowana praca doktorska. 
<br/><br/>Rozprawa doktorska. Politechnika Poznańska, 2014. 
<br/><br/>Bibliogr. s. 79-85. 
<br/><br/><br/>Streszcz. ang.