Identyfikacja i modelowanie optyczne systemów wizyjnej kontroli jakości wytwarzania / Jacek Reiner.
Rodzaj materiału:
TekstJęzyk: polski Język streszczenia: angielski Szczegóły wydania: Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2013.Opis: 219, [2] s. : il. (w tym kolor.) ; 24 cmISBN: - 9788374938112
- Dostępna również w wersji elektronicznej online.
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Dział/Uwagi | Status | Termin zwrotu | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Wolny dostęp - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn skryptów | W 146569 | A 3 | Dostępny | 0000143678 | ||
| Wolny dostęp - wypożyczane na 14 dni | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn skryptów | W 146569 | A 3 | Dostępny | 0000140369 | ||
| Wolny dostęp - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji W | Biblioteka Politechniki Poznańskiej wypożyczony | magazyn skryptów | W 146569 | A 3 | Wypożyczono | 03/03/2026 | 0000140370 | |
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 179327 | Dostępny | 0000141033 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. s. 203-219.
Dostępna również w wersji elektronicznej online.
Streszcz. ang.