Optimal reliability modeling : principles and applications / Way Kuo, Ming J. Zuo.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: Hoboken : John Wiley & Sons, 2003.Opis: XVI, 544 s. ; 25 cmISBN: - 047139761X
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn główny | Mg 179956 | Dostępny | 0000141686 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. s. 513-538.