Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman.
Rodzaj materiału:
TekstSerie: Electrical Engineering Communications and Signal ProcessingSzczegóły wydania: New York : IEEE Press, cop. 1990.Wydanie: Revised printOpis: XVII, 652 s. : il. ; 26 cmISBN: - 0780310624
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazyn - Wypożyczane na zewnątrz z kolekcji MG | Biblioteka Politechniki Poznańskiej na półce | magazyn główny | Mg 181837 | Dostępny | 0000148105 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. przy rozdz. Indeks.