Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A. / ed.: Subhash Mahajan, James W. Corbett.

Współtwórca(-y): Rodzaj materiału: TekstTekstSerie: Materials Research Society Symposia Proceedings ; vol. 14Szczegóły wydania: New York : North-Holland, cop. 1983.Opis: XV, 582 s. : il. ; 24 cmTyp zawartości:
  • Tekst
Tryb odtwarzania:
  • Bez urządzenia pośredniczącego
Typ nośnika:
  • Wolumin
ISBN:
  • 0444008128
Tematy:
Egzemplarze
Typ dokumentu Obecna biblioteka Kolekcja Sygnatura Status Kod kreskowy
Niewypożyczane Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni Czytelnia A 104600/2 Dostępny 001104600020
Liczba zamówień: 0
Udostępnij