Advances in X-ray analysis : proceedings of the Twenty-Third Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Denver, August 7-9,1974. Vol. 18 / ed by William L. Pickles [et al.].
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: New York ; London : Plenum Press, cop. 1975.Opis: XIX, [1], 642 s. : il. ; 26 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 0306381184
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 54129/18 | Dostępny | 001054129180 |
Liczba zamówień: 0
Bibliogr. przy rozdz. Indeks.