Characterization of epitaxial semiconductor films / ed. by Henry Kressel.
Rodzaj materiału:
TekstSerie: Methods and Phenomena ; vol. 2Szczegóły wydania: Amsterdam : Elsevier, 1976.Opis: XII, 216 s. : il. ; 25 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 044441438X
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | Czytelnia | A 80412 | Dostępny | 001080412000 |
Liczba zamówień: 0
This set of papers has been published as a special issue of Thin Solid Films, vol. 31, issues 1 and 2.