Life-cycle assessment of semiconductors / Sarah B. Boyd ; foreword by Arpad Horvath.
Rodzaj materiału:
TekstSzczegóły wydania: New York ; Dordrecht ; Heidelberg ; London : Springer Science+ Business Media, © 2012.Opis: XXVII, [1], 226 stron : ilustracje ; 24 cmTyp zawartości: - Tekst
- Bez urządzenia pośredniczącego
- Wolumin
- 9781441999870
- 9781441999887
| Typ dokumentu | Obecna biblioteka | Kolekcja | Sygnatura | Dział/Uwagi | Status | Kod kreskowy | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Niewypożyczane | Biblioteka Politechniki Poznańskiej w czytelni | czytelnia ogólna | CzO 201961 | F 1 | Dostępny | 0000218117 |
Liczba zamówień: 0
Indeks.